| Dane szczegółowe: | |
| Wydawca: | Uniwersytet Mikołaja Kopernika |
| Rok wyd.: | 2001 |
| Oprawa: | miękka |
| Ilość stron: | 247 s. |
| Wymiar: | 170x240 mm |
| EAN: | 9788323113119 |
| ISBN: | 83-2311-311-4 |
| Data: | 2008-11-21 |
pozycja niedostępna
×
1 / 1
Opis książki:
Ocena błędu pojedynczego pomiaru Wielkości charakteryzujące serię pomiarów obarczonych błędami przypadkowymi Histogramy i rozkłady, zmienna losowa Rozkład Gaussa i jego zastosowania Rozkład dwumianowy Przedstawianie danych i graficzna analiza wyników Ocena błędu maksymalnego oraz niepewności, gdy błędy przypadkowe i systematyczne są porównywalne Centralne twierdzenie graficzne
Książka "Podstawy metod opracowania pomiarów" - Andrzej Bielski, Roman Ciuryło - oprawa miękka - Wydawnictwo Uniwersytet Mikołaja Kopernika. Książka posiada 247 stron i została wydana w 2001 r.