Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych. Zarysy kształtu - Falistość. Mikro- i nanochropowatość
Stanisław Adamczak
| Dane szczegółowe: | |
| Wydawca: | Wydawnictwo Naukowe PWN |
| Rok wyd.: | 2023 |
| Oprawa: | twarda |
| Ilość stron: | 450 s. |
| Wymiar: | 165x235 mm |
| EAN: | 9788301232962 |
| ISBN: | 978-83-0123-296-2 |
| Data: | 2023-11-07 |
Opis książki:
Przedstawiamy wyjątkową publikację - kompendium poświęcone tematyce metrologii i analizie powierzchni. Publikacja powstała dzięki kilkudziesięcioletniemu doświadczeniu w przemyśle oraz dokonaniom badawczym i naukowym jej Autora - profesora dr. hab. Stanisława Adamczaka profesora Politechniki Świętokrzyskiej oraz byłego (dwukrotnego) rektora tejże uczelni. Autor w swojej książce przede wszystkim odnosi się do praktyki przemysłowej, publikacja jest więc bogata w treści przydatne w pracy inżynierskiej, zawiera bardzo dużo ilustracji oraz przykładów zastosowań opisywanych rozwiązań w praktyce. Publikacja kierowana jest przede wszystkim do metrologów, technologów oraz konstruktorów urządzeń i aparatury pomiarowej, pracowników służb kontrolno-pomiarowych i utrzymania ruchu, przemysłu maszynowego i branż pokrewnych czy specjalistów projektowania przemysłowego. Z uwagi na przedstawioną tematykę książka nadaje się również jako lektura dla studentów I i II stopnia kierunków technicznych typu mechanika i budowa maszyn, inżynieria produkcji i materiałowa czy mechatronika, elektrotechnika, inżynieria medyczna czy logistyka.
Książka "Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych. Zarysy kształtu - Falistość. Mikro- i nanochropowatość" - Stanisław Adamczak - oprawa twarda - Wydawnictwo Naukowe PWN. Książka posiada 450 stron i została wydana w 2023 r.