Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych. Zarysy kształtu - Falistość. Mikro- i nanochropowatość

Opis książki:

Przedstawiamy wyjątkową publikację - kompendium poświęcone tematyce metrologii i analizie powierzchni. Publikacja powstała dzięki kilkudziesięcioletniemu doświadczeniu w przemyśle oraz dokonaniom badawczym i naukowym jej Autora - profesora dr. hab. Stanisława Adamczaka profesora Politechniki Świętokrzyskiej oraz byłego (dwukrotnego) rektora tejże uczelni. Autor w swojej książce przede wszystkim odnosi się do praktyki przemysłowej, publikacja jest więc bogata w treści przydatne w pracy inżynierskiej, zawiera bardzo dużo ilustracji oraz przykładów zastosowań opisywanych rozwiązań w praktyce.

Publikacja kierowana jest przede wszystkim do metrologów, technologów oraz konstruktorów urządzeń i aparatury pomiarowej, pracowników służb kontrolno-pomiarowych i utrzymania ruchu, przemysłu maszynowego i branż pokrewnych czy specjalistów projektowania przemysłowego. Z uwagi na przedstawioną tematykę książka nadaje się również jako lektura dla studentów I i II stopnia kierunków technicznych typu mechanika i budowa maszyn, inżynieria produkcji i materiałowa czy mechatronika, elektrotechnika, inżynieria medyczna czy logistyka.

Książka "Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych. Zarysy kształtu - Falistość. Mikro- i nanochropowatość" - Stanisław Adamczak - oprawa miękka - Wydawnictwo Naukowe PWN. Książka posiada 450 stron i została wydana w 2023 r. Cena 90.12 zł. Zapraszamy na zakupy!